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Introdução à Técnica de Espectroscopia Fotoeletrônica por Raios
[ESPEC-XPS]

Introdução à Técnica de Espectroscopia Fotoeletrônica por Raios
O livro Espectroscopia Fotoeletrônica por raios X (XPS) apresenta esta técnica que se tornou essencial em grande variedade de pesquisas.

A autora consegue, numa linguagem clara e extremamente didática, introduzir os diferentes usos dessa técnica de caracterização de superfícies sólidas. A obra é abrangente, cobrindo desde a origem da técnica, passa pela descrição do potencial como técnica analítica e cobre inclusive os aspectos técnicos relacionados ao equipamento e à geração dos raios X.

O livro mostra como a técnica de XPS pode ser utilizada para a caracterização das primeiras camadas da superfície de um sólido, conhecimento particularmente importante em campos como o dos catalisadores sólidos [em particular aqueles empregados industrialmente], materiais usados em nanotecnologia etc. São descritos exemplos como o uso para a determinação das concentrações relativas de diversos constituintes das primeiras camadas de um sólido, grau de oxidação dos diversos elementos e/ou o caráter covalente das ligações envolvidas.

Este livro é muito bem vindo ao preencher uma lacuna em termos de livros-texto em português nesta área de especialidade, de modo que tem todos os atrativos para se tornar um documento fundamental no campo acadêmico,sendo utilizado por cursos de química, física e engenharias, assim como devendo se incorporar aos acervos dos centros de pesquisa e desenvolvimento acadêmicos e industriais.

CAPÍTULO 1 - EVOLUÇÃO HISTÓRICA E INTRODUÇÃO AOS FUNDAMENTOS BÁSICOS DAS TÉCNICAS QUE UTILIZAM FEIXE DE ELÉTRONS E DE FÓTONS

1.1 Aspectos gerais
1.2 Efeito fotoelétrico, dualidade partícula onda, equação de Einstein
1.3 Interação da radiação com a matéria (fótons de raios X)
1.4 Interação dos elétrons com a matéria
1.5 Espectroscopia eletrônica Auger (AES)
1.5.1 Estrutura eletrônica – Átomo isolado e no estado sólido
1.6 Conceito de sensibilidade e especifi cidade
1.7 Livre caminho médio inelástico (Inelastic mean free path-IMFP)

CAPÍTULO 2 - ESPECTROSCOPIA FOTOELETRÔNICA POR RAIOS X (XPS): INTERPRETAÇÃO DO ESPECTRO FOTOELÉTRICO E AS INFORMAÇÕES GERADAS

2.1 Estrutura primária: nível do cerne, acoplamento spin-órbita e deslocamento químico
2.1.1 Nível do Cerne
2.1.2 Acoplamento spin-órbita (j – j)
2.1.3 Energia de ligação e estados de oxidação: deslocamento químico
2.2 Estrutura secundária: picos satélites, picos fantasmas, espalhamento múltiplo, shake up e shake off
2.3 Intensidade e composição no espectro de XPS

CAPÍTULO 3 - INSTRUMENTAÇÃO
3.1 Produção de raios X
3.2 Compensação de cargas
3.3 O Analisador de elétrons
3.4 Detectores multiplicadores de elétrons em multicanais (Channeltrons)

CAPÍTULO 4 - CONSIDERAÇÕES FINAIS

CAPÍTULO 5 - REFERÊNCIA

Autora: FABIANA MAGALHÃES
Editora: SYNERGIA EDITORA
Assunto: ENGENHARIA, GERAL
ISBN: 9788561325619
Páginas: 102
Edição: 1º
Ano: 2011
Encadernação: BROCHURA

Prazo de entrega: postagem em 2 dias úteis

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